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详细信息
一.概述:overview
采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.
二.适用行业:Applicable industry:
用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
三.型号及参数Models and technical parameters:规格型号Models FT-351A FT-351B FT-351C 1.方块电阻范围sheet resistance 10-5~2×105Ω/□ 10-6~2×105Ω/□ 10-4~1×107Ω/□ 2.电阻率范围resistivity range 10-6~2×106Ω-cm 10-7~2×106Ω-cm 10-5~2×108Ω-cm 3.测试电流范围test current range 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 10mA ---200pA
FT-352导体材料高温电阻率测试系统
运用四端测量方法测试材料电阻、电导率和电阻率,并配合高温箱结合高温治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.具有气氛保护功能.
参数资料 data规格/型号 FT-352A FT-352B 1.电阻范围sheet resistance range 10-7~2×107Ω 10-8~2×104Ω 2.电阻率范围resistivity range 10-7~2×107Ω-cm 10-8~2×104Ω-cm 电导率 Electrical conductivity 5×10-7~107s/cm 10-4~5×108s/cm
FT-353绝缘材料高温表面和体积电阻率测试系统- 概述Overview:
二.参数资料 Parameter data
1、电阻测量范围选购/ Resistance measuring range:
1)Resistance电阻104Ω~1×1013Ω
Resistivity:电 阻 率:1.0×104 ~ 2.0×1013 Ω-m;
2)Resistance电阻104Ω ~1×1016Ω ;
Resistivity:电阻率:104Ω ~1×1016Ω
2、PC软件显示界面:电阻率、温度、电流,电压、样品数据;单位可以切换
3、电压voltage: 0-1000V
6、Power主机供电: AC 220V,50HZ,功耗约5W
7、电极装置:高温三环电极装置
8. Choose temperature range: 温度范围选购:400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C
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