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详细信息
硅片全自动四探针测试仪
功能描述：
四点探针法，全自动化运行测量系统，PC软件采集和数据处理；
参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；
可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择，
可显示：方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件.
报表输出数据统计分析.
硅片全自动四探针测试仪
适用范围
晶圆、非晶硅/微晶硅，导电膜，氮化镓，碳化硅电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；
交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等；
半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏等.
硅片全自动四探针测试仪
参数资料：
规格型号 FT-3110A FT-3110B（可扩展） 1.电阻 10^-5～2×10^5Ω 10^-6～2×10^5Ω 2.方块电阻 10^-5～2×10^5Ω/□ 10^-6～2×10^5Ω/□ 3.电阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm 10-7～2×106Ω-cm 4.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，
10mA，100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3% 7.PC软件操作 PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力值、报表生成等. 8.压力范围（选购）： 探针压力可调范围：软件控制,100-500g可调 9.探针 针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%
圆头铜镀金材质，探针间距1mm；2mm；3mm选配，其他规格可定制10.晶片尺寸（选购） 晶圆尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm） 11.分析模式 单点、5点、9点、49点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试 12.重复性 测量重复性：重复性≤3% 13.防护功能 具有限位量程和压力保护;误操作和急停防护;异常警报 14.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W 
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宁波瑞柯微智能科技有限公司
粉末流动性测定仪,松装密度仪,霍尔流速计,振实密度仪,堆积密度仪,休止角测定仪,四探针测试仪,电压降测试仪,电阻率测试仪,方阻测试仪,粉体特性综合测试仪,粉末电阻率测试仪
瑞柯微硅片全自动四探针测试仪FT-3110A
页面价格仅供参考，具体请联系报价价格 价格电议,您可以向供应商询价得到该产品价格- 产品型号：FT-3110A
- 品 牌：瑞柯微
- 所 在 地：浙江宁波宁波市
- 更新日期：2024-11-09
合计：1台总价：电议宁波瑞柯微智能科技有限公司 地址： 宁波市江北区慈城镇张嘉路91弄9号三楼内容声明：谷瀑为第三方平台及互联网信息服务提供者，谷瀑（含网站、客户端等）所展示的商品/服务的标题、价格、详情等信息内容系由店铺经营者发布，其真实性、准确性和合法性均由店铺经营者负责。谷瀑提醒您购买商品/服务前注意谨慎核实，如您对商品/服务的标题、价格、详情等任何信息有任何疑问的，请在购买前通过谷瀑与店铺经营者沟通确认；谷瀑上存在海量店铺，如您发现店铺内有任何违法/侵权信息，请在谷瀑首页底栏投诉通道进行投诉。
