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    双电测四探针测试仪
    本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
    双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
     
     双电测四探针测试仪
    规格型号 FT-341 FT-342 FT-343 FT-345 FT-346 FT-347
    1.方块电阻范围 10-52×105Ω/□ 10-42×103Ω/□ 10-32×105Ω/□ 10-32×103Ω/□ 10-22×105Ω/□ 10-22×103Ω/□
    2.电阻率范围 10-62×106Ω-cm 10-52×104-cm 10-42×106Ω-cm 10-42×104-cm 10-32×106Ω-cm 10-32×106Ω-cm
    3.测试电流范围 0.1μA,μA,0μA100µA,1mA,10mA,100 mA 1μA10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA 0.1μA,μA10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA 1μA10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA 0.1μA1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA 1μA10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
    4.电流精度 ±0.1%读数 ±0.2%读数 ±0.2%读数 ±0.3%读数 ±0.3%读数 ±0.3%读数
    5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5%
    6.显示读数 大屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
    7.测试方式 双电测量
    8.工作电源 输入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W
    9.整机不确定性误差 ≤3%(标准样片结果)
    10.选购功能 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
    11.测试探头 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
     
     
    双电测四探针测试仪
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    双电测四探针测试仪
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